• 關于半導體芯片進行高低溫測試的一些關鍵點

    2022-07-30 13:54:18

    采用半導體芯片制成的產品在我們的生活中,隨處可見,比如電腦等智能設備。所以對該類產品的性能要求也很高,需要進行各類環境可靠性測試,需要用到勤卓品牌高低溫試驗箱,本實驗設備具有便利的可操作性能和可靠的設備性能,可以測試半導體陶磁及高分子材料在各種環境條件下

    所產生的物理性變化。

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      半導體芯片做高低溫測試時,操作人員需要特別注意,在實驗的過程中,不能輕易打開高低溫試驗箱的箱門,主要原因如下:

      半導體芯片進行高低溫測試是在模擬自然環境的試驗箱,在使用時,試驗箱內可能會有各種極端的環境,例如高溫高濕、超低溫、高溫高壓等特殊條件。

      如果勤卓品牌高低溫試驗箱中正在進行-70℃的低溫測試,這個時候打開試驗箱門,寒冷的氣流會溢出試驗箱,如果我們的手指沒有做任何防護,觸摸到試驗箱壁或者是測試的樣品上,會瞬間凍傷,凍傷部位的肌肉組織甚至會壞死。另外在較低溫的情況下打開試驗箱門可能會造成蒸發器結霜,會影響降溫速度,甚至有可能會造成壓縮機損壞等問題。


      如果高低溫試驗箱中正在進行高溫150℃的測試時打開試驗箱門,高溫氣體會瞬間沖出試驗箱,如果沒有做好相關防護,很有可能會燙傷操作員的面部,如果試驗箱旁有燃點低的可燃物,甚至可能會引起起火。


      如果是其他環境試驗設備時,比如恒溫恒濕試驗箱在進行高溫高濕試驗箱時,試驗箱內的壓力和蒸汽會非常大,如果在此時打開試驗箱門,也會有高溫高濕的蒸汽沖出試驗箱,也較有可能會對操作人員造成嚴重的燙傷。


    所以,在半導體芯片高低溫測試運行中途,若沒有非常必要打開試驗箱門,請勿打開試驗線門,如果須要使用中途打開試驗箱門,那么請一定做好相關的防護措施,用正確的方法打開試驗箱門。


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